| 热(rè)門(mén)搜索: 压敏電(diàn)阻 热(rè)敏電(diàn)阻 温(wēn)度(dù)傳感(gǎn)器 |
压敏電(diàn)阻采購,就(jiù)選源林(lín)電(diàn)子,个(gè)性(xìng)化(huà)定(dìng)制,廠(chǎng)家直(zhí)銷
老(lǎo)化(huà)的(de)表(biǎo)現(xiàn):
老(lǎo)化(huà)是(shì)指在(zài)各(gè)種(zhǒng)外(wài)加應(yìng)力及(jí)外(wài)界因素作(zuò)用(yòng)下(xià),其(qí)性(xìng)能(néng)及(jí)電(diàn)气(qì)物(wù)理(lǐ)參數發(fà)生(shēng)改變(biàn),逐步偏離其(qí)起(qǐ)始性(xìng)能(néng)指标(biāo)。ZnO压敏電(diàn)阻器老(lǎo)化(huà)後(hòu)的(de)I-V特(tè)性(xìng),老(lǎo)化(huà)主要(yào)集中(zhōng)在(zài)预击穿區(qū),而(ér)击穿區(qū)的(de)老(lǎo)化(huà)較小,表(biǎo)現(xiàn)为(wèi)I-V特(tè)性(xìng)曲(qū)線(xiàn)在(zài)低(dī)電(diàn)场(chǎng)區(qū)向(xiàng)右(yòu)偏移,阻性(xìng)電(diàn)流加大(dà),功率損耗增大(dà),压敏電(diàn)压下(xià)降。直(zhí)流電(diàn)压作(zuò)用(yòng)後(hòu)的(de)老(lǎo)化(huà),I-V特(tè)性(xìng)不(bù)对(duì)稱;交流電(diàn)压作(zuò)用(yòng)下(xià)的(de)老(lǎo)化(huà)。另(lìng)老(lǎo)化(huà)後(hòu)電(diàn)容量(liàng)減小,介電(diàn)損耗增大(dà)。

源林(lín)電(diàn)子是(shì)一(yī)家專業研發(fà)、生(shēng)産压敏電(diàn)阻的(de)高科技電(diàn)子元(yuán)器件(jiàn)企業。主營压敏電(diàn)阻、热(rè)敏電(diàn)阻和(hé)温(wēn)度(dù)傳感(gǎn)器,自(zì)有(yǒu)研發(fà)团(tuán)隊,廠(chǎng)家直(zhí)銷!
压敏電(diàn)阻采購,就(jiù)選源林(lín)電(diàn)子,廠(chǎng)貨直(zhí)供
殘压比KR
通(tòng)过(guò)压敏電(diàn)阻器的(de)電(diàn)流为(wèi)某一(yī)值时(shí),在(zài)它(tā)两(liǎng)端所(suǒ)産生(shēng)的(de)電(diàn)压稱为(wèi)这(zhè)一(yī)電(diàn)流值的(de)殘压。殘压比則是(shì)殘压與(yǔ)标(biāo)稱電(diàn)压之(zhī)比。
殘压比KR的(de)定(dìng)義公(gōng)式为(wèi):
KR =UR/UN
殘压比可(kě)以比較直(zhí)觀地(dì)反(fǎn)應(yìng)出(chū)压敏電(diàn)阻限制过(guò)電(diàn)压的(de)能(néng)力,在(zài)压敏材料的(de)研究工作(zuò)中(zhōng)已得到(dào)廣泛的(de)應(yìng)用(yòng),在(zài)防雷(léi)压敏電(diàn)阻、避雷(léi)器閥片(piàn)和(hé)高能(néng)型压敏電(diàn)阻閥片(piàn)中(zhōng)以成(chéng)为(wèi)标(biāo)準電(diàn)性(xìng)能(néng)參數。

源林(lín)電(diàn)子压敏電(diàn)阻選型電(diàn)話(huà)就(jiù)在(zài)图(tú)片(piàn)中(zhōng),歡迎来(lái)電(diàn)!
压敏電(diàn)阻采購,就(jiù)選源林(lín)電(diàn)子,品類(lèi)豐富
ZnO是(shì)六(liù)方(fāng)晶系(xì)纖鋅矿结構,其(qí)化(huà)學(xué)键處(chù)于離子键與(yǔ)共(gòng)價键的(de)中(zhōng)間(jiān)键型狀态,氧離子以六(liù)方(fāng)密堆(duī),鋅離子占據(jù)一(yī)半的(de)四(sì)面(miàn)體(tǐ)空(kōng)隙,鋅和(hé)氧都是(shì)四(sì)面(miàn)體(tǐ)配位(wèi)。ZnO是(shì)相对(duì)開(kāi)放(fàng)的(de)晶體(tǐ)结構,開(kāi)放(fàng)的(de)结構对(duì)缺陷的(de)性(xìng)質(zhì)及(jí)擴散(sàn)機(jī)制有(yǒu)影響,所(suǒ)有(yǒu)的(de)八(bā)面(miàn)體(tǐ)間(jiān)隙和(hé)一(yī)半的(de)四(sì)面(miàn)體(tǐ)間(jiān)隙是(shì)空(kōng)的(de),正(zhèng)負離子的(de)配位(wèi)數均为(wèi)4,所(suǒ)以容易引入(rù)外(wài)部(bù)雜質(zhì),ZnO熔點(diǎn)为(wèi)2248,密度(dù)为(wèi)5.6g/cm3,純淨的(de)ZnO晶體(tǐ),其(qí)能(néng)带(dài)由02-的(de)滿的(de)2p電(diàn)子能(néng)級和(hé)Zn2+的(de)空(kōng)的(de)4s能(néng)級組成(chéng),禁带(dài)宽(kuān)度(dù)为(wèi)3.2~3.4eV,因此(cǐ),室(shì)温(wēn)下(xià),滿足化(huà)學(xué)計(jì)量(liàng)比的(de)純淨ZnO應(yìng)是(shì)絕緣體(tǐ),而(ér)ZnO中(zhōng)常見(jiàn)的(de)缺陷是(shì)金(jīn)屬填隙原子,所(suǒ)以它(tā)是(shì)金(jīn)屬过(guò)剩(Zn1+xO)非(fēi)化(huà)學(xué)計(jì)量(liàng)比n型半導體(tǐ)。
Eda等認为(wèi),在(zài)本(běn)征缺陷中(zhōng),填隙鋅原子擴散(sàn)快,对(duì)压敏電(diàn)阻穩定(dìng)性(xìng)有(yǒu)很大(dà)影響。
由于压敏電(diàn)阻型号(hào)太多,每个(gè)客戶的(de)个(gè)性(xìng)化(huà)需求不(bù)一(yī)。想(xiǎng)了(le)解(jiě)更(gèng)多压敏電(diàn)阻的(de)信(xìn)息,请撥打(dǎ)图(tú)片(piàn)中(zhōng)的(de)咨詢電(diàn)話(huà)與(yǔ)我们(men)源林(lín)電(diàn)子聯系(xì),謝謝!
您好,歡迎莅臨源林(lín)電(diàn)子,歡迎咨詢...
![]() 触屏版二(èr)維碼 |